用於多樣化生產領域的表面偵測和表面分析系統

複雜和低對比度缺陷的偵測和分類對所使用的系統提出了最高的要求。經過驗證的 ELSIS 表面分析系統可優化生產線的生產過程,並保證完整的品質監控

功能

ELSIS 表面偵測系統由非常強大的 OL 60 行掃描相機提供支援。極其模組化的結構(每台相機都是一個獨立的影像處理系統,通過乙太網與 ELSIS 伺服器以及系統中的其它相機進行通信)實現了極度緊湊的偵測線設計。

應用範圍

表面分析系統用於薄膜生產領域、塗層生產線、無紡布和造紙行業、以及金屬、衛生無紡布和薄膜的生產和加工。

應用

通常是在加工之後安裝表面分析系統,以便進行品質控制。根據任務的不同,幅面表面在入射光或透射光下進行表面偵測。影響表面分析成功的決定性因素是幅面表面的掃描角度以及光源的佈置。 

圖例說明

1= 導向輥 | 2 = CCD 行掃描相機 | 3 = 光發射器 | M = 偵測範圍 | A = 晶片平面和幅面平面之間的距離 | AB = 工作寬度 | NB = 額定寬度

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